ES系列光谱椭偏仪

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ES05 快速摄谱式 固定入射角光谱椭偏仪
发布者:admin     发布时间:2012-9-25 17:21:00    浏览次数:2748 次
ES05是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的固定入射角光谱椭偏仪,仪器波长范围370-1000nm。
ES05固定入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。
 ES05系列适合于对样品进行实时和非实时的检测。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


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