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教学椭偏仪EX2
- EX2 自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。 EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 EX2仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。
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