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波片检测仪EW1000

EW1000是一款高精度、宽光谱专用波片检测仪。 EW1000采用国际先进的椭偏光学调制测量原理、专门用于波片的全面质量检测,如相位延迟差、快慢轴、透射率测量。 EW1000适用于波片生产过程中的质量监控、质量终检、以及新型波片研发中。
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产品描述
参数
技术特点
  1.  

1.快速、精确的测量与分析

2.光谱范围根据配置可选,从紫外到近红外 

3.ETEW功能强大的测量与分析软件

4.ETEW向导设计,简化操作,适合新手和专家

基本功能

1.波片相位延迟差检测

2.波片快慢轴方位角检测

3.波片总透过率检测

4.波片快慢轴透过率检测

5.波片均匀性检测

6.波片快慢轴方位标记*1)

7.偏振片消光比、透光轴方位、透射率检测*2)

8.旋光片旋向、旋光度、透射率检测*2)

备注:

*1) 为扩展功能,可选购相关配件。

*2) 为高级扩展功能,可在标准机型上升级,或可选购EPC系列多功能偏振器件检测仪。

 

应用范围

适用于:

1.波片生产中的过程质量控制,极大地提高产品一次合格率。

2.波片生产中的快慢轴标记。

3.波片入库的高标准终检。

4.波片的性能特性研究、新型相位延迟片的研发。

5.相位延迟膜的测量。

6.偏振光学系统中高质量器件的筛选和优化,提高产品整体品质。

可检测的样品种类:

1.各种原理制造的波片:

  • 光学波片:如,相位延迟片单片、组合波片
  • 电光波片:如,液晶相位延迟器

2.单波长或消色差波片

3.单级或多级

4.单个裸片或在基板上的波片

技术指标

光谱范围:

VI-A350  1700nm

其它光谱范围:可定制

相位延迟差

测量范围:0-360°

准确度:λ/1000(对于1/4波片)

重复性:λ/2000(对于1/4波片)

单次测量时间:典型:1.6s / 波长

快轴方位角

 

测量范围:0-180°

准确度:0.5°

重复性:0.3°

单次测量时间:典型:2s

透过率

 

测量范围:0-100%

准确度:1.0%

重复性:0.5%

单次测量时间:典型:1s / 波长

 

 

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