波片检测仪EW1000

1.快速、精确的测量与分析

2.光谱范围根据配置可选，从紫外到近红外 

3.ETEW功能强大的测量与分析软件

4.ETEW向导设计，简化操作，适合新手和专家

1.波片相位延迟差检测

2.波片快慢轴方位角检测

3.波片总透过率检测

4.波片快慢轴透过率检测

5.波片均匀性检测

6.波片快慢轴方位标记^*1）

7.偏振片消光比、透光轴方位、透射率检测^*2）

8.旋光片旋向、旋光度、透射率检测^*2）

备注：

*1) 为扩展功能，可选购相关配件。

*2) 为高级扩展功能，可在标准机型上升级，或可选购EPC系列多功能偏振器件检测仪。

适用于：

1.波片生产中的过程质量控制，极大地提高产品一次合格率。

2.波片生产中的快慢轴标记。

3.波片入库的高标准终检。

4.波片的性能特性研究、新型相位延迟片的研发。

5.相位延迟膜的测量。

6.偏振光学系统中高质量器件的筛选和优化，提高产品整体品质。

可检测的样品种类：

1.各种原理制造的波片：

• 光学波片：如，相位延迟片单片、组合波片
• 电光波片：如，液晶相位延迟器

2.单波长或消色差波片

3.单级或多级

4.单个裸片或在基板上的波片

光谱范围：

VI-A：350 – 1700nm

其它光谱范围：可定制

相位延迟差

测量范围：0-360°

准确度：λ/1000(对于1/4波片)

重复性：λ/2000(对于1/4波片)

单次测量时间：典型：1.6s / 波长

快轴方位角

测量范围：0-180°

准确度：0.5°

重复性：0.3°

单次测量时间：典型：2s

透过率

测量范围：0-100%

准确度：1.0%

重复性：0.5%

单次测量时间：典型：1s / 波长