-
光谱椭偏仪ES01
- ES01系列是ELLITOP针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度快速摄谱型光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 ES01光谱椭偏仪基于高灵敏度光谱探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k，或介电函数ε1和ε2），也可用于测量块状材料的光学性质。
-
产品描述
企业下载
在线搜索
搜索
椭偏测量领域的开拓者和创造者，全球精密测量行业最值得信赖的企业
服务支持
帮助中心
营销知识
热门专题
行业解读
新闻中心
新闻公告
媒体报道
社会公益
媒体中心
企业概况
关于我们
企业文化
公司动态
实战应用
联系我们
010-89535610
邮箱：asst1@ellitop.com
地址：北京市北京经济技术开发区西环南路26号院30号楼5层506
官方公众号
法律声明 地图网站