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显微膜厚仪EH200

EH200显微膜厚仪主要用于镜面基底上的透明、半透明薄膜样品,尤其是具有表面二维单元结构的样品进行显微测量,可得到微区的单层或少数多层薄膜的膜厚,也可以得到薄膜的光学参数(如,折射率n、消光系数k)。此外,也可以用于粗糙表面上膜厚的测量。
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