ESNano
  • 快速摄谱型光谱椭偏仪ESNano

  • ESNano光谱椭偏仪是应用于工业或科研领域中纳米薄膜厚度和折射率常规测量的台式解决方案。 仪器操作及其简单,仅通过放置样品、点击一个按钮,即可在数秒内完成一次高精度测量。 ESNano光谱椭偏仪采用步进补偿器扫描测量模式,利用高灵敏度阵列探测单元和专用椭偏分析软件,通过光波在样品表面反射前后偏振态的变化得到样品信息。仪器用于常规测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k,或介电函数ε1和ε2),也可用于测量块状材料的光学性质。
  • ESNano

在线搜索

搜索
搜索

椭偏测量领域的开拓者和创造者,全球精密测量行业最值得信赖的企业 

服务支持

 

帮助中心
营销知识
热门专题
行业解读

 

新闻中心

 

新闻公告
媒体报道
社会公益
媒体中心

企业概况

 

关于我们
企业文化
公司动态
实战应用

 

联系我们

 

010-89535610

邮箱:asst1@ellitop.com

地址:北京市北京经济技术开发区西环南路26号院30号楼4层402C

 

官方公众号

公众号二维码