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成像双折射检测仪EWI
- EWI成像双折射检测仪基于偏振调制技术，用于对晶体、液晶等平面样品的双折射特性及其分布进行高精度、快速检测，主要包括∶ （1） 相位延迟差检测 （2） 方位角检测 EWI成像双折射检测仪非常适合于相位延迟片、或由应力引起的双折射特性等监测，可应用于科研的新品研发、医疗诊断、以及工业制造过程中的质量控制等。
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