一、概述
ES03A-IR 红外光谱椭偏仪集成了高精度 、高分辨率的红外傅里叶光谱（ FTIR ）和高灵敏度的光谱椭偏仪，光谱范围覆盖1.7um到30um 。
ES03A-IR 红外光谱椭偏仪用于表征复杂膜系的化学、机械、电子、光学性能，可应用于光学镀层、半导体、生物、化学工业， 以及材料研究等领域， 以及分子振动光谱范围内的有机导体 、OLED 和聚合物等材料。
可用于表征：
■ 块状材料
■ 光学性质（如， 折射率 n 、消光系数 k， 或介电函数 ε1 和 ε2）
■ 薄膜厚度（单层和多层）
■ 表面和界面膜层
■ 材料成分（混合层的比例）
■ 化学键接-分子振动
■ 光子吸收（晶体材料）
■ 掺杂浓度
■ 椭偏、非均匀性、散射、背反射、各向异性（单轴和多轴）
二、技术优势
（1）先进的旋转补偿器测量技术：Delta 测量范围 0-360 ° , 无测量死角问题，也可消除粗糙表面引起的消偏振效应对结果的影响；
（2）原子层量级的检测灵敏度：可以测量单原子层；
（3）视频式样品对准：精确完成样品对准， 并方便观察， 减少人为误差；
（4）多入射角度调节：多入射角度结构设计，增强了仪器测量的灵活性，尤其适合于超薄样品或复杂的样品的测量场合；
（5）测量光斑可调；
（6）反射率/透射率测量： 对样品进行光谱透射率 R 和反射率 T 测量；
（7）一键式仪器操作：对于常规操作，只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。