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光谱椭偏仪ES01
ES01系列光谱椭偏仪是ELLITOP针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度快速摄谱型光谱椭偏仪,波长范围覆盖紫外、可见到红外。 ES01系列光谱椭偏仪基于高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件,用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k,或介电函数ε1和ε2),也可用于测量块状材料的光学性质。
光伏专用激光椭偏仪EMPro-PV
EMPro-PV是ELLITOP针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的专用型多入射角激光椭偏仪。 EMPro-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜镀层的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EMPro-PV融合多项量拓科技专利技术,采用单多晶一体化样品台技术,兼容测量单晶和多晶太阳电池样品,并实现二者的瞬间轻松转换。一键式多线程操作软件,使得仪器操作简单安全。
教学椭偏仪EX2
EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。 EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 EX2仪器还可用于同时测量块状材料(如,金属、半导体、介质)的折射率n和消光系数k。
波片检测仪EW1000
EW1000是一款高精度、宽光谱专用波片检测仪。 EW1000采用国际先进的椭偏光学调制测量原理、专门用于波片的全面质量检测,如相位延迟差、快慢轴、透射率测量。 EW1000适用于波片生产过程中的质量监控、质量终检、以及新型波片研发中。
偏振态检测仪EPA01
EPA01系列偏振态检测仪是针对研发、制造过程、工业检验领域推出的高精度偏振态检测仪,仪器光谱范围覆盖紫外、可见、红外。 EPA01偏振态检测仪适用于对连续输出的光波偏振态进行检测(包括,自由空间传播的光波,以及基于光纤传播的光波),并用Poincaré球、椭圆度、Stokes矢量等方式表示。
消光比检测仪
ERM01是针对研发、制造过程、工业检验领域推出的消光比检测仪,仪器光谱范围覆盖紫外、可见、红外。 ERM01消光比检测仪适用于自由空间传播的线偏振光波,以及基于光纤传播的线偏振光波测量。 ERM01消光比检测仪的基本功能包括:消光比测量、 线偏振光的方位角
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