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教学椭偏仪EX2
EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。
EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。
EX2仪器还可用于同时测量块状材料(如,金属、半导体、介质)的折射率n和消光系数k。

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消光比检测仪
ERM01是针对研发、制造过程、工业检验领域推出的消光比检测仪,仪器光谱范围覆盖紫外、可见、红外。
ERM01消光比检测仪适用于自由空间传播的线偏振光波,以及基于光纤传播的线偏振光波测量。
ERM01消光比检测仪的基本功能包括:消光比测量、
线偏振光的方位角
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