纳米光栅检测是对纳米尺度光栅结构进行高精度测量和表征的技术,广泛应用于科学研究、半导体制造、计量校准等领域。 纳米光栅检测主要基于椭偏测量技术,当光入射到纳米光栅上时,会发生衍射现象,其偏振态也会发生特定变化。其偏振态变化与光栅的结构参数(如周期、高度、形状等)密切相关。通过分析光栅的穆勒矩阵光谱,可以实现对光栅结构的高精度测量。
一、概述
纳米光栅检测是对纳米尺度光栅结构进行高精度测量和表征的技术,广泛应用于科学研究、半导体制造、计量校准等领域。
纳米光栅检测主要基于椭偏测量技术,当光入射到纳米光栅上时,会发生衍射现象,其偏振态也会发生特定变化。其偏振态变化与光栅的结构参数(如周期、高度、形状等)密切相关。通过分析光栅的穆勒矩阵光谱,可以实现对光栅结构的高精度测量。
光谱椭偏仪ES01
椭偏膜厚仪ESH
波片检测仪EW1000
激光椭偏仪EMPro
光伏专用激光椭偏仪EMPro-PV
广义光谱椭偏仪EGS01
ET8100A
膜厚仪EH100-X
首页
电话
留言
回到顶部