一、概述
EGS01光谱椭偏检测仪基于偏振调制技术，用于对晶体、液晶等平面样品的双折射特性及其分布进行高精度、快速检测，主要包括：
（1）相位延迟差检测
（2）方位角检测
EGS01光谱椭偏检测仪非常适合于相位延迟片、或由应力引起的双折射特性等监测，可应用于科研的新品研发、医疗诊断、以及工业制造过程中的质量控制等。
二、技术优势
（1）测量范围：可测量样品的Mueller矩阵的16个元素；
（2）相位延迟差范围大：覆盖 0-360 ° ;
（3）相位延迟差的检测灵敏度高：相位延迟精度优于λ/1000；
（4）明确判断快慢轴：对于宽光谱测量，可明确区分快慢轴，避免混淆；
（5）宽光谱范围：仪器光谱从可见到近红外；
（6）视场大：Ø20mm的视场。